【Webセミナー】

　見えなかった・測れなかった材料特性をSweet Spot Imagingと最新SEM解析で解き明かす！
～ULVイメージング × 高感度EDS × 結晶方位解析 × In-Situ力学評価が融合する次世代材料解析セミナー～

１．開催概要

• 日頃、SEM-EDXを材料開発や品質管理に対して高度に活用されているユーザー、更に高いパフォーマンスをお求めの研究者の方々を対象にウェビナーを開催します。
• JFEテクノリサーチ(株)、カールツァイス(株)、オックスフォード・インストゥルメンツ(株)の共催となります。

２．開催要領

• 日　　時： 2026年12月2日（水）　13：30～16：30
• 会　　場： Webセミナー（参加費無料）
• 視聴方法：Zoomにてオンライン開催　(申込みを受け付けた方には、Webセミナーの案内を、3日前と前日にお送りいたします）
• 申込締切：2026年11月25日（水）15：00まで

３．セミナーお申込みについて

• 右の申し込みフォームにご記入ください
• お申込み後、受付確認として自動返信メールをお送りいたします

【お願い】

• 同業他社様などのご参加はご遠慮頂いております。
• Webセミナーの録画・撮影等は原則禁止となります。